Tretiatchenko C.G., Pan V.M., Moskaliuk V.O., Svetchnikov V.L., Flis V.S., Kalenyuk A.A., Kasatkin A.L., Rebikov A.I.
Ключевые слова: HTS, films epitaxial, critical current density, thickness dependence, critical caracteristics, modeling, YBCO
Cherpak Y.V., Semenov A.V., Tretiatchenko C.G., Pan V.M., Moskaliuk V.O., Svetchnikov V.L., Flis V.S.
Pan V.M.(pan@imp.kiev.ua)
Cherpak Y.V., Komashko V.A., Pozigun S.A., Semenov A.V., Tretiatchenko C.G., Pashitskii E.A., Pan V.M.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.